筆記(ji)本(ben)(ben)轉(zhuan)(zhuan)軸壽命(ming)試(shi)驗機搭配(pei)高精度(du)電(dian)(dian)機進(jin)行檢測(ce),可實現高速度(du)、高精度(du)下筆記(ji)本(ben)(ben)電(dian)(dian)腦產品的翻轉(zhuan)(zhuan)壽命(ming)測(ce)試(shi)。通過同步(bu)輪(lun)及(ji)同步(bu)帶翻轉(zhuan)(zhuan)橫梁(liang)并作(zuo)用于筆記(ji)本(ben)(ben)翻蓋部分,按預先設定的角度(du)值(zhi)要求和(he)程序步(bu)驟進(jin)行旋轉(zhuan)(zhuan)運動,從(cong)而對測(ce)試(shi)平(ping)臺固(gu)定放置的筆記(ji)本(ben)(ben)電(dian)(dian)腦作(zuo)翻轉(zhuan)(zhuan)壽命(ming)試(shi)驗。