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USB應用中的電磁兼容保護設計

更新時間:2023-04-17   點擊次數:347次

USB端口對PC外(wai)設的發展(zhan)起(qi)到了革命性的推動作用(yong)(yong),并且正(zheng)變得越來(lai)越流行,比如在采集測量數據或(huo)在機器上(shang)安裝軟件更(geng)新等應用(yong)(yong)中(zhong)就非常常見(jian)。作為(wei)用(yong)(yong)于(yu)數據傳輸的一種(zhong)總線系(xi)統,只要有移動設備連著的地(di)方就有它的身影。雖然在日(ri)常生(sheng)活中(zhong)使(shi)用(yong)(yong)的連接器看起(qi)來(lai)非常結實(shi),但USB應用(yong)(yong)開發人員仍(reng)然必須重視這些接口的保(bao)護。

在(zai)Intel公司的“高(gao)(gao)速(su)USB平臺設計(ji)指(zhi)南"中,甚至提高(gao)(gao)了考慮USB端口(kou)易感性因素(su)的重(zhong)要性。Intel建議用(yong)電(dian)流補償型(xing)扼流圈抑制EMI,再用(yong)其它元件防止靜(jing)電(dian)放(fang)(fang)(fang)電(dian)(ESD)。電(dian)子設備經(jing)常會遭受靜(jing)電(dian)放(fang)(fang)(fang)電(dian)。靜(jing)電(dian)放(fang)(fang)(fang)電(dian)脈沖電(dian)壓可(ke)能高(gao)(gao)達30kV,因此對所有(you)(you)類(lei)型(xing)的集成電(dian)路來(lai)(lai)說都(dou)是非常危險的。目前有(you)(you)些IC對靜(jing)電(dian)放(fang)(fang)(fang)電(dian)來(lai)(lai)說是“安(an)(an)全(quan)(quan)的",但這種安(an)(an)全(quan)(quan)性只(zhi)是對一小部(bu)(bu)分潛在(zai)威(wei)脅(xie)來(lai)(lai)說是有(you)(you)保(bao)證(zheng)的。日(ri)常操作表明:額外(wai)(wai)保(bao)護是的。只(zhi)有(you)(you)采取外(wai)(wai)部(bu)(bu)保(bao)護措(cuo)施(shi)才能開發(fa)出整塊電(dian)路板不(bu)受靜(jing)電(dian)放(fang)(fang)(fang)電(dian)影響以及高(gao)(gao)度可(ke)靠的產品。專門(men)的抑制措(cuo)施(shi)同樣也是必需的。無線聯網的電(dian)子設備如今是遍(bian)地開花,它們的數量(liang)正在(zai)與日(ri)俱增(zeng)。

使自(zi)己(ji)的(de)(de)產品(pin)不受(shou)輻射干擾的(de)(de)影響非常(chang)重(zhong)要(yao)。只有(you)(you)考慮了預期的(de)(de)干擾形式(shi),才能(neng)在設計中及(ji)時集成(cheng)必(bi)要(yao)的(de)(de)抑(yi)制元件,進(jin)而縮短開發周期。我們知道,自(zi)身產品(pin)的(de)(de)輻射型干擾也必(bi)須處于某個電平之下。這可以(yi)通過(guo)EMC測試實驗室進(jin)行很精確的(de)(de)評估。如果(guo)產品(pin)沒有(you)(you)通過(guo)這種測試,那么立(li)馬返(fan)工(gong)的(de)(de)成(cheng)本(ben)將(jiang)超(chao)過(guo)抑(yi)制元件成(cheng)本(ben)的(de)(de)好(hao)幾倍。